Deux secteurs à l'honneur cette année : Métrologie et Contrôle non Destructif
Programme des conférences en un clin d'oeil
Métrologie : la maîtrise des mesures
Organisées par le Collège Français de Métrologie
- "Surveillance des processus de mesure". Mardi 1er juin - 10h à 12h30
Les étalonnages, plébiscités depuis toujours par les référentiels Qualité, sont indispensables, mais sont-ils suffisants ?
S'ils permettent d'analyser l'instrument « sous toutes ses coutures » à un moment donné et dans des conditions données, ils présentent l'inconvénient majeur de constater, mais rarement d'anticiper.
Les surveillances, imposées par tous les référentiels Qualité, permettent, quant à elles, de s'assurer au quotidien de la qualité des mesures. Différents industriels décrivent leurs stratégies en ce domaine, du fameux « Caillou sur la balance » à la détection des valeurs douteuses par des tests statistiques.
Le Collège Français de Métrologie publie ses travaux dans le cadre d'un fascicule qui détaille de nombreux exemples qui seront présentés lors de cette conférence.
- Jean-Michel POU - A+Métrologie
Benoit BOUDIER - LDAR
Bernard LARQUIER- BEA METROLOGIE
- "La métrologie dans les référentiels qualité". Mardi 1er juin - 14h à 16h30
La métrologie est toujours présente dans les référentiels qualité, avec des exigences plus ou moins strictes. Il n'est pas rare que des entreprises gèrent plusieurs référentiels qualité (automobile, aéronautique, environnement, sécurité) pour répondre correctement aux attentes de leurs clients. Le responsable qualité et le responsable métrologie se demandent alors souvent comment répondre simplement à ces exigences et ne connaissent pas toujours les outils existants qui peuvent les aider dans leur démarche. Entre normes et fascicules de documentation, voire guides d'application, les solutions sont souvent à portée de main, encore faut-il les connaître.
La rencontre proposée par le Collège Français de Métrologie s'articulera autour des axes suivants :
- Présentation des exigences normatives des référentiels qualité,
- Les normes et fascicules de documentation pour aider à répondre à ces exigences,
- Les guides et ouvrages.
- Bernard LARQUIER - BEA METROLOGIE
- Jean-Claude REALI - A+Métrologie
- "Diagnostic énergétique dans l'industrie : mesurer mieux pour économiser plus". Mercredi 2 juin - 10h à 12h30
Au-delà des considérations environnementales, la maîtrise des consommations énergétiques est un élément de la performance économique des procédés industriels. Le diagnostic énergétique constitue ainsi un outil d'amélioration pour les industriels. Quelle méthodologie mettre en place pour réaliser un diagnostic énergétique ? Comment mettre en place un plan de comptage, avec quel équipement de mesure ? Quel apport de la métrologie pour exploiter judicieusement les mesures ?
Le Collège Français de Métrologie vous propose de débattre de ces questions avec des experts du domaine et le témoignage d'un industriel autour des points suivants :
- L'importance du comptage dans la réduction des consommations d'énergie,
- La méthodologie,
- L'approche « métrologique »,
- L'attrait des nouveaux équipements pour faciliter les plans de comptage,
- Le témoignage d'un industriel.
- Pierre CLAUDEL- CETIAT
- Raphaël BRIE - Endress Hauser
- Hélène RIVIERE-KALUC - ADEME
- "La métrologie pour la santé et la biologie médicale". Jeudi 3 juin - 10h à 12h30
L'évolution des exigences réglementaires et normatives, et les progrès technologiques ont fait de la métrologie une préoccupation grandissante dans les domaines de la santé et de la biologie.
Avec la réforme de la biologie médicale et la généralisation des démarches d'accréditation, des solutions techniques et méthodologiques se développent pour parvenir à une fonction métrologie efficace et pertinente.
Dans ce contexte, le Collège Français de Métrologie a souhaité réunir des représentants de ces secteurs, afin d'échanger sur :
- les besoins, l'environnement réglementaire et normatif,
- la valeur ajoutée et les difficultés de la métrologie dans ces secteurs,
- des exemples de solutions techniques et organisationnelles.
- Marc PRIEL - LNE
- Eric CARTALAS - JRI MAXANT
- Jean Marc REIFENBERG - EFS
Le CND : état de l'art et applications industrielles
Organisées par le CETIM .
Mercredi 2 juin journée. Salle Phénix Pavillon 7 mezzanine 3
| 9h-9h15 |
Ouverture - Mohammed Cherfaoui (Cetim) |
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| Tomographie par rayons X |
| 9h15-9h40 |
La tomographie : entre hier et aujourd'hui, une technique de cnd en pleine évolution – Christian Thiery (CEA) |
| 9h40- 9h55 |
Exemples d'application industrielle - Sébastien Brzuchacz (CETIM) |
| 9h55-10h05 |
Questions |
| Techniques multiéléments en ultrasons |
| 10h15-10h40 |
Etat de l'art (technique et normatif) – Henri Walaszek (Cetim) |
| 10h40-10h55 |
Nouvelles techniques associées à la simulation - Laurent Le Ber (M2M) |
| 10h55-11h15 |
Contrôle des composites* - Nicolas Terrien (Cetim) |
| 11h15-11h25 |
Questions |
| Automatisation des CND |
| 11h30-11h45 |
Contrôle automatique de tubes grâce à la technologie UT phased array post acquisition – Bernard Bisiaux (Vallourec) |
| 11h25-11h40 |
Robotisation des CND – David Garnier (Profile) |
| 12h00 à 12h10 |
Questions |
| 12h00 à 14h00 |
Pause déjeuner |
| 14h00-15h30 |
Visite de l'exposition Mesurexpovision et de l'espace CND stand G5 |
Programme détaillé, cliquez ici
Les conférences techniques vision
Conférences organisées par le Symop.
Mardi 1er, mercredi 2 et jeudi 3 juin - Stand G50
Le Symop organise un "Village Vision" sur lequel exposeront les adhérents suivants : Visionic, Laser 2000, Photon Lines, Matrix et Effilux. Au coeur du Village, des conférences techniques seront proposées aux visiteurs pendant toute la durée du salon.
| Horaires |
Thème |
Descriptif du contenu |
| 11h00 |
Les traitements d'images en vidéo rapide : intérêt et applications - Photon Lines
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| 11h30 |
Exemples de vidéo surveillance par caméra intelligente - Matrix Vision
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| 12h00 |
L'innovation optique au service de l'éclairage de vision industrielle à LEDs - Effilux
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Eclairage à LEDs innovants : La réponse à des problématiques précises de vision industrielle :
- Uniformité et puissance pour l'inspection linéaire en industrie lourde
- Uniformité parfaite pour l'amélioration de la détection et de la classification des défauts de pièces complexes en industrie
- Projection de formes lumineuses complexes.
- Triangulation "laser" sans Speckle, en Couleur, sans risque oculaire, et avec 50 000 H de durée de vie !
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| 14h30 |
Caméra matricielle ou caméra linéaire, laquelle choisir ? - Visionic
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Certaines applications de vision relèvent clairement d'une acquisition utilisant la technologie des caméras linéaires. D'autres, sont parfaitement adapter pour les caméras matricielles. Mais parfois cette évidence peut être remise en cause. |
| 15h00 |
Classification d'images par SVM : une innovation pour vos applications industrielles - Photon Lines
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| 15h30 |
Système de vision "léger" - Gips
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Système de vision "léger" paramétrable pour différentes applications de contrôle |
| 16h00 |
Contrôle des infrastructures ferroviaires par systèmes optiques - NEW VISION Technologies |
Optimiser la maintenance des infrastructures ferroviaires. Améliorer la fiabilité des contrôles. Assurer un diagnostic répétable automatique. NEW VISION vous présente ses dispositifs de mesure optique des fils de caténaires et de la voie. |
Les nanosciences, un vivier à valoriser
Conférences organisées par Le centre de compétence Nanosciences Ile-de-France, C'nano Ile-de-France et la SFP.
Epicentre de la recherche francilienne en nanosciences, unique au monde par son caractère interdisciplinaire alliant sciences dures et sciences humaines et sociales, C'Nano IdF* fédère la plus grande concentration européenne d'équipes académiques de ce domaine. Son objectif majeur est de promouvoir une recherche d'excellence prenant en compte les enjeux de société, et d'accompagner, le cas échéant, les chercheurs désireux de valoriser leurs recherches. C'est dans ce contexte que C'Nano IdF présente son programme "Valo" qui permet aux projets de pointe d'émerger sur la scène industrielle et met le pied à l'étrier aux jeunes docteurs désireux de se lancer dans la création d'une start-up.
*C'Nano IdF, groupement de recherche CNRS, créé avec le MESR et le CEA, et soutenu par la Région IdF.
Jeudi 3 juin 2010 de 9h30 à 12h30. Salle Aquila Pavillon 7 mezzanine 3
| 9h00 |
Accueil |
| 9h30 |
Introduction : Martial DUCLOY (SFP), Ariel LEVENSON (C'Nano IdF) |
| 9h40 - 10h10 |
C'Nano IdF – Valorisation : Actions & Retours d'expérience - Béatrice DAGENS (CNRS-IEF, UMR 8622) |
| 10h10 - 10h40 |
Bonnes pratiques entrepreneuriales appliquées à la valorisation de la recherche - Eric LANGROGNET (ECP) |
| 10h40 - 11h10 |
De l'idée innovante à sa valorisation - Des acteurs et des enjeux - Jacques GIERAK (CNRS-LPN, UPR 20) |
| 11h10 - 11h40 |
Retour d'expérience sur « valo » et formation dans C'Nano IdF - Karla BALAA (CNRS-Institut Langevin (ESPCI), UMR 7587) - Maël LE BERRE (CNRS-Institut Curie, UMR 144 |
| 11h40 - 12h30 |
Discussions autour d'une table ronde : Les structures de valorisation en Ile-de-France |
Programme complet, cliquez ici
Mesure, lasers et applications : l'importance du laser dans le monde d'aujourd'hui
Dans le cadre du cinquantenaire de l'invention du laser, une journée de conférences est organisée par la Société Française de Physique en partenariat avec la Fédération Française des Sociétés Scientifiques (F2S). Elle s'adresse en priorité aux enseignants-chercheurs, ingénieurs, techniciens de toutes les disciplines, de la physique à la chimie, la biologie et la médecine. Elle concerne également un large public intéressé par les applications des lasers. Le programme plus particulièrement orienté vers les techniques de mesure et les applications des lasers aux sciences et à l'industrie, illustrera l'importance du laser dans le monde d'aujourd'hui.
Mercredi 2 juin 2010 de 9h30 à 17h30. Salle Aquila Pavillon 7 mezzanine 3
| 9h00 |
Accueil des participants |
| 9h30 |
Introduction à la journée - Martial DUCLOY (Président de la SFP) |
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9h40
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Nouvelles sources lasers à fibre pour la métrologie dans la microélectronique - François SALIN (EOLITE Systems) |
| 10h00 |
Les lasers à cascade quantique : une technologie des semiconducteurs pour les lasers dans le moyen et le lointain infrarouge Carlo SIRTORI (Univ. Paris 7, MPQ) |
| 10h20 |
Applications des lasers nanoseconde dans l'industrie - Philippe AUBOURG (Quantel) |
| 10h40 |
Pause |
| 11h00 |
Les lasers femtoseconde : des applications surprenantes et prometteuses - Gilles RIBOULET (Amplitude) |
| 11h20 |
Les applications industrielles des lasers - Franck RIGOLET (IRÉPA Laser) |
| 11h40 |
Recherche et industrie : les communautés s'organisent - Jean-Claude SIRIEYS (OpticsValley et CNOP) |
| 12h00 |
Déjeuner libre sur MESURExpoVISION |
| 14h30 |
Atomes froids et mesures de précision - Pierre LEMONDE (Observatoire de Paris/Syrte) |
| 14h50 |
Les lasers miniatures : vers un nouvel éclairage sur la physique des lasers ? - Isabelle ROBERT (CNRS/LPN, Marcoussis) |
| 15h10 |
La cryptographie quantique à variables continues : garantir le secret sans compter les photons - Philippe GRANGIER (IOTA) |
| 15h30 |
Le Gyrolaser - Fabien BRETENAKER (CNRS-Laboratoire Aimé Cotton, Orsay) |
| 15h50 |
Pause |
| 16h10 |
Modulation météorologique et caractérisation de l'atmosphère par laser femtoseconde - Jérôme KASPARIAN (Université Claude Bernard Lyon, LASIM et Université de Genève) |
| 16h30 |
Principe, état de l'art et applications des accélérateurs de particules à plasma-laser - Victor MALKA (LOA, ENSTA-CNRS-Ecole Polytechnique, Palaiseau) |
| 16h50 |
L'expérimentation plasma sur le LMJ - Jacques EBRARDT (CEA/DAM-Île de France)
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Programme complet, cliquez ici
Conférences CEM
Conférences animées par Philippe SISSOKO (Bureau Veritas LCIE) et Thierry RAFESTHAIN (EMITECH)
Jeudi 3 juin journée. Salle Carina B Pavillon 7 niveau 3
Réseaux Très Haut Débit fixes et mobiles (10h00-12h00)
| 10h00-12h00 |
Point sur les mesures de DAS - Benoit MARTIN (EMITECH) |
| 10h30-10h50 |
Problèmes CEM liés à la cohabitation des réseaux mobiles hauts mobiles et performances des récepteurs nouvelles générateurs - Joël JEANNOLLE (AFCEM) |
| 11h00-11h20 |
Déploiement des réseaux très haut débit : Evolution des normes et évaluation de la conformité - Hakim LATRACHE (ANFR) |
| 11h30-11h50 |
Méthode d'accélération des mesures « TRP & TIS, OTA specification » en cage anéchoide sur mobile 2G et 3G - Stéphane PANNETRAT (FIELD IMAGING) |
REGLEMENTATION ET EVOLUTION NORMATIVE (14h30-16h30)
| 14h30-14h50 |
Protection CEM des bâtiments dans le cadre des exigences environnementales (HQE, ...) - Rémi BRICHARD (CEMMIS) |
| 15h00-15h20 |
GRENELLE DE L'ENVIRONNEMENT/DIRECTIVE EuP : Les nouvelles règles d'éco conception applicables en France et en Europe - Xavier VITAL - BUREAU VERITAS CODDE |
| 15h30-15h50 |
Green Power : Optimisation des alimentations - Sébastien CHADAL (WURTH ELEKTRONIK) |
| 16h00-16h20 |
Evolution normatives liées aux Directives CEM et R&TTE - Philippe SISSOKO (LCIE) |
Colloque Astelab
40ème Colloque ASTELAB organisé par ASTE, sur le thème de "Rôle de l'expérimentation dans la maturation des produits". les mardi 1er & mercredi 2 juin.
Ce colloque couvre quatre sujets techniques de haute qualité et d'actualité, qui seront exposés par des experts de renom : Extensométrie – Climatique – Mécanique - Modélisation et simulation
Programme détaillé, cliquez ici
Mardi 1er juin. Salle Carina B Pavillon 7 niveau 3
10h00 - Extensométrie
Président de session : Professeur Yves BERTHAUD - ENS/LMT-CACHAN
| La corrélation d'images : un outil de mécanique expérimentale. Jean-Noël Périé - LMT/Cachan |
| Compression triaxiale du Teflon : essai mécanique et extensométrie optique. Bumedjen Raka - LMT/Cachan |
| Méthodes de détermination des contraintes résiduelles par relaxation. Raymond Buisson - Consultant |
Mardi 1er juin . Salle Carina B Pavillon 7 niveau 3
14h30 - Climatique
Président de session : Laurent CAZENAVE - DGA/DT
| Prise en compte des effets thermiques sur la ventilation naturelle des grands volumes. Exemple de comparaison entre méthodes analytiques et numériques sur les variables globales. Xavier Faure - CSTB |
| Influence d'un profil de température aléatoire sur le taux de défaillance d'un composant électronique. Lambert Pierrat - L J Consulting et L JK-Lab |
| Produit d'Aide à la Décision des impacts des conditions météorologiques sur opérations. Jean- Pierre Husson - Bertin Technologies. |
Mercredi 2 juin. Salle Carina B Pavillon 7 niveau 3
10h00 - Mécanique
Président de session : Christian LALANNE - Expert Consultant
| Les essais de vibrations en utilisant la multi excitation : normes et applications. Bernard Colomies - Sopemea |
| Produit d'Aide à la Décision des impacts des conditions météorologiques sur opérations. Jean- Pierre Husson - Bertin Technologies. |
| Mise en œuvre de la méthode résistance –contrainte lorsqu'on ne réalise qu'un seul essai : estimation Bayesienne de la distribution de la résistance. Lambert Pierrat - L J Consulting et L JK-Lab |
| Apports de la personnalisation pour synthétiser un environnement vibratoire de type Groupe Moto-Propulseur et le confronter avec des cahiers de charge forfaitaires. Frédéric Kihm - HBM-nCode Durability Products & David Delaux - Valeo Systèmes Thermiques |
Mercredi 2 juin. Salle Carina B Pavillon 7 niveau 3
14h30 - Modélisation et simulation
Président de session : Bruno COLIN - Nexter
| Méthodologie de la validation de la tenue aux vibrations de l'élastomère des poulies AVT de PSA. Benoit Beaum PSA, Jean-Yves Disson & Laurent Perier 01dB-Metravib |
| Vibration Fatigue –shaking in several dimensions –theory and application. Michael Hack & Frank Zingsheim LMS International Belgique |
| Development of a testing specification on electrodynamic shaker for the qualification of lighting devices whose pole is impacted by a car. Frédéric Marin - V2i, Christian Malville - RTECH, Jean Claude Golinval - Université de Liège |
Mercredi 2 juin
Dîner - débat à 19h30 à l'Hôtel Mercure Paris Porte de Versailles Expo
>> Le nombre de places étant limité, nous vous proposons de vous inscrire dès que possible en téléchargeant le bulletin d'inscription et/ou en contactant Madame Nicole JOUVET au secrétariat de l'ASTE
Tél : 01 42 66 58 29 -
Cette adresse email est protégée contre les robots des spammeurs, vous devez activer Javascript pour la voir.
ou en vous inscrivant directement en ligne sur le site de l'ASTE www.aste.asso.fr.
ASTE - 20 avenue de Wagram - 75008 PARIS
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